Escaner freescan UE Pro
Escaner freescan ue pro Para Una Inspección De Grado Metrológico De Alta Precisión
Escaner freescan UE Pro para inspección de grado metrológico de alta precisión
Escaner freescan ue pro Laser Handheld Shining 3D hereda la alta precisión, la precisión de grado metrológico y el diseño liviano de FreeScan UE, al tiempo que mejora la capacidad de escaneo fino y el control de precisión global del escaneo de piezas de trabajo a gran escala. Adopta 26+5+1 líneas láser azules e integra un módulo fotogramétrico.
Teniendo en cuenta la velocidad, la precisión y los detalles, esta solución de metrología 3D profesional se puede aplicar a escenarios de escaneo de diferentes tamaños y realizar inspecciones de precisión de grado metrológico, diseño inverso, fabricación aditiva y otras aplicaciones.
ESPECIFICACIONES TÉCNICAS
FreeScan UE Pro Laser Handheld Scanner 3D hereda la alta precisión, la precisión de grado metrológico y el diseño liviano de FreeScan UE, al tiempo que mejora la capacidad de escaneo fino y el control de precisión global del escaneo de piezas de trabajo a gran escala. Adopta 26+5+1 líneas láser azules e integra un módulo fotogramétrico.
Exactitud
170 mm ~ 680 mm
Precisión del escaneo
Hasta 0,02 mm
Profundidad de escaneo
170 mm ~ 680 mm
Máx. Rango de escaneo
600 mm × 550 mm
Velocidad de escaneo
1 850 000 puntos/s
Precisión volumétrica*
0,02+0,03 mm/m (modo estándar); 0,02+0,015 mm/m
Contamos con Demos impartidas por los expertos escaner 3D.
Múltiples modos de escaneo
13 líneas láser cruzadas para escanear objetos grandes rápidamente, 5 líneas láser paralelas para escanear detalles finos y una sola línea láser para agujeros profundos y escaneo de área de bolsillo.
Con cámaras de mayor resolución y 5 líneas láser paralelas, FreeScan UE Pro permite un objeto rico en funciones
escanea y restaura los detalles finos con mayor precisión.
Control de precisión global escaner freescan UE Pro
Función de fotogrametría integrada sin necesidad de aplicar objetivos codificados, bloquea rápidamente la posición espacial del marco de destino.
Amplia gama de adaptaciones de materiales
Admite el escaneo de superficies negras y altamente reflectantes, proceso de escaneo más eficiente.
